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Dudeck, Sven GerhardKamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster LaserschweißprozesseDissertationsschrift
Kartoniert, KIT Scientific Publishing (2013)
38,00 €
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Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweißprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwachung anhand der Prozessabstrahlung entwickelt. Der Einsatz einer schmalbandigen Beleuchtung sowie divergenzbasierter Kantendetektionsfilter ermöglicht die Segmentierung der Prozesszonenoberfläche.

DETAILS

Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweißprozesse

Dissertationsschrift

Dudeck, Sven Gerhard

Kartoniert, X, 283 S.

graph. Darst.

Sprache: Deutsch

21 cm

KIT Scientific Publishing (2013)

Gewicht: 527 g

ISBN-13: 978-3-7315-0019-3

Titelnr.: 39922522

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