Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweißprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwachung anhand der Prozessabstrahlung entwickelt. Der Einsatz einer schmalbandigen Beleuchtung sowie divergenzbasierter Kantendetektionsfilter ermöglicht die Segmentierung der Prozesszonenoberfläche.
DETAILS
Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweißprozesse
Dissertationsschrift
Dudeck, Sven Gerhard
Kartoniert, X, 283 S.
graph. Darst.
Sprache: Deutsch
21 cm
KIT Scientific Publishing (2013)
Gewicht: 527 g
ISBN-13: 978-3-7315-0019-3
Titelnr.: 39922522